GB-T 27760-2011 利用Si 111 晶面原子台阶对原子力显微镜亚纳米高度测量进行校准的方法

ICS19.020 N04 中华人民共和国国家标准 GB/T27760—2011 利用Si（111）晶面原子台阶对原子力显微镜亚纳米高度测量进行校准的方法 Test method for calibrating the z-magnification of an atomic force microscope at subnanometerdisplacementlevels using Si（111)monatomic steps 2011-12-30发布 2012-05-01实施中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局发布中国国家标准化管理委员会 GB/T 277602011 前言本标准按照GB/T1.1一2009给出的规则起草。本标准与ASTME2530一2006《利用Si(111)晶面原子台阶对原子力显微镜亚纳米高度测量进行校准的方法》(英文版)技术内容基本一致考虑到我国国情，在采用ASTME2530一2006时，本标准做了一些修改，有关技术性差异已编人正文中。附录A（规范性附录)中给出样品制备方法，附录B（资料性附录)中列出了本标准章条编号与 ASTME2530一2006章条编号的对照一览表，附录C(资料性附录）中给出了技术性差异及其原因一览表以供参考。本标准由中国科学院提出，本标准由全国纳米技术标准化技术委员会（SAC/TC279)归口。本标准起草单位：国家纳米科学中心。本标准主要起草人：朱晓阳、杨延莲、贺蒙、高洁。

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本文档由人生无常于 2024-05-25 14:59:27上传分享