(19)国家知识产权局 (12)实用新型专利 (10)授权公告 号 (45)授权公告日 (21)申请 号 202222135032.5 (22)申请日 2022.08.12 (73)专利权人 成都信息工程大学 地址 610225 四川省成 都市西南 航空港经 济开发区学府路一段24 号 (72)发明人 张凤林　 (74)专利代理 机构 上海思真远达专利代理事务 所(特殊普通 合伙) 31481 专利代理师 戚淼 (51)Int.Cl. G01R 31/28(2006.01) G01R 1/04(2006.01) F16F 15/067(2006.01) (54)实用新型名称 一种集成电路中可靠性分析的测试 结构 (57)摘要 本实用新型公开了一种集成电路中可靠性 分析的测试结构， 涉及集成电路技术领域， 包括 支撑块， 支撑块的内壁滑动连接有滑板， 支撑块 的上表面固定连接有两个相对称的支撑柱， 支撑 块的上方设置有固定板， 两个支撑柱的顶端均与 固定板的底 面固定连接， 固定板的上表面固定连 接有伸缩气泵。 它能够通过支 撑块、 支撑柱、 固定 板、 伸缩气泵、 升降板、 滑板和检测装置本体 之间 的相互配合可以实现对集成电路可靠性分析的 检测， 通过升降板、 检测装置本体、 滑杆、 第一伸 缩弹簧、 第一限位杆、 第一滑块、 第三伸缩弹簧和 弹性钢片之间的相互配合可以实现对集成电路 缓冲保护的作用， 可以有效的避免集成电路受到 损伤， 能够有效的避免经济损失。 权利要求书1页 说明书4页 附图3页 CN 218037198 U 2022.12.13 CN 218037198 U 1.一种集成电路中可靠性分析的测试结构， 包括支撑块(1)， 其特征在于： 所述支撑块 (1)的内壁滑动连接有滑板(6)， 所述支撑块(1)的上表面固定连接有两个相 对称的支撑柱 (2)， 所述支撑块(1)的上方设置有固定板(3)， 两个所述支撑柱(2)的顶端均与固定板(3)的 底面固定连接， 所述固定板(3)的上表 面固定连接有伸缩气泵(4)， 所述伸缩气泵(4)的输出 轴端固定连接有升降板(5)， 所述升降板(5)的内壁固定连接有第一限位杆(14)， 所述第一 限位杆(14)的外表 面滑动有两个相对称的第一滑 块(15)， 所述第一限位杆(14)的外表 面套 设有两个相对称的第三伸缩弹簧(16)， 所述升降板(5)的下方设置有检测装置本体(9)， 所 述检测装置本体(9)的上表面固定连接有弹性钢片(17)， 两个所述第一滑块(15)均与 弹性 钢片(17)固定连接， 所述检测装置本体(9)上表 面的四个边角处均固定连接有滑杆(11)， 四 个所述滑杆(11)的顶端均贯穿升降板(5)并与升降板(5)滑动连接， 每个所述滑杆(11)的外 表面均套设有第一伸缩弹簧(12)。 2.根据权利要求1所述的一种集成电路中可靠性分析的测试结构， 其特征在于： 所述第 一限位杆(14)的外表 面套设有第二伸缩弹簧(13)， 两个所述第一滑 块(15)均与第二伸缩弹 簧(13)固定连接 。 3.根据权利要求1所述的一种集成电路中可靠性分析的测试结构， 其特征在于： 每个所 述滑杆(11)的顶端均固定连接有限位盘(10)， 每个所述限位盘(10)的外表面均做钝化处 理。 4.根据权利要求1所述的一种集成电路中可靠性分析的测试结构， 其特征在于： 所述支 撑块(1)底面的四个边角处均固定连接有支撑腿(7)， 每个所述支撑腿(7)的底端均固定连 接有支撑 垫(8)。 5.根据权利要求1所述的一种集成电路中可靠性分析的测试结构， 其特征在于： 所述支 撑块(1)的内壁开设有两个相对称的滑槽(18)， 每个所述滑槽(18)的内壁均固定连接有第 二限位杆(20)。 6.根据权利要求5所述的一种集成电路中可靠性分析的测试结构， 其特征在于： 每个所 述第二限位杆(20)的外表 面均滑动连接有第二滑 块(19)， 两个所述第二滑 块(19)均与滑板 (6)固定连接 。 7.根据权利要求6所述的一种集成电路中可靠性分析的测试结构， 其特征在于： 每个所 述第二限位杆(20)的外表 面均套设有第四伸缩弹簧(21)， 两个所述第四伸缩弹簧(21)的顶 端分别与两个第二滑块(19)的底面固定连接 。权　利　要　求　书 1/1 页 2 CN 218037198 U 2一种集成电路中可靠性分析的测试结构 技术领域 [0001]本实用新型涉及集成电路技术领域， 具体是一种集成电路中可靠性分析的测试结 构。 背景技术 [0002]集成电路是一种微型电子器件或部件， 采用一定 的工艺， 把一个电路中所需的晶 体管、 电阻、 电容和电感等元件及布线互连一起， 制作在一小块或几小块半导体晶片或介质 基片上， 然后封装在一个管壳内， 成为具有 所需电路功能的微型结构； 其中所有 元件在结构 上已组成一个整体， 使电子元件向着微小 型化、 低功 耗、 智能化和高可靠性方面迈进了一大 步。 [0003]在对集成电路的可靠性分析的时候需要使用到专业的测试装置进行分析， 该装置 在使用的时候是把集成电路放置到检测平台上， 在下压测试装置进行检测， 在下压的时候 却把缓冲机构， 可能会 对集成电路造成损伤。 [0004]根据专利号为CN212540620U的专利中公开的一种集成电路中可靠性分析的测试 结构， 该装置在使用的时候可以对集成电路进行固定， 能够增加测试的准确性， 但是该装置 在使用的时候缺少对集成电路的缓冲保护机构， 虽然测试装置的下降速度很慢， 但是 由于 测试装置稳定重量较大， 所以产生的冲击力较大， 可能会使集成电机受到损伤， 能够 有效的 避免经济损失； 为此， 我们提供了一种集成电路中可靠性分析的测试 结构解决以上问题。 实用新型内容 [0005]本实用新型的目的就是为了弥补现有技术的不足， 提供了一种集成电路中可靠性 分析的测试 结构。 [0006]为实现上述目的， 本实用新型提供如下技术方案： 一种集成电路中可靠性分析的 测试结构， 包括支撑块， 所述支撑块的内壁滑动连接有滑板， 所述支撑块的上表面固定连接 有两个相对称的支撑柱， 所述支撑块的上方设置有固定板， 两个所述支撑柱的顶端均与固 定板的底面固定连接， 所述固定板的上表面固定连接有伸缩气泵， 所述伸缩气泵的输出轴 端固定连接有升降板， 所述升降板的内壁固定连接有第一限位杆， 所述第一限位杆 的外表 面滑动有两个相对称的第一滑块， 所述第一限位杆的外表面套设有两个相对称的第三伸缩 弹簧， 所述升降板的下方设置有检测装置本体， 所述检测装置本体的上表面固定连接有弹 性钢片， 两个所述第一滑块均与弹性钢片 固定连接， 所述检测装置本体上表面的四个边角 处均固定连接有滑杆， 四个所述滑杆的顶端均贯穿升降板并与升降板滑动连接， 每个所述 滑杆的外表面均套设有第一伸缩弹簧。 [0007]进一步的， 所述第一限位杆的外表面套设有第二伸缩弹簧， 两个所述第一滑块均 与第二伸缩弹簧固定连接 。 [0008]进一步的， 每个所述滑杆的顶端均 固定连接有限位盘， 每个所述限位盘的外表面 均做钝化处理。说　明　书 1/4 页 3 CN 218037198 U 3