(19)国家知识产权局 (12)发明 专利申请 (10)申请公布号 (43)申请公布日 (21)申请 号 202210850808.3 (22)申请日 2022.07.19 (71)申请人 中国建筑西南设计 研究院有限公司 地址 610084 四川省成 都市金牛区星辉西 路8号 (72)发明人 杨金旺　饶明航　方长建　谢伟　 王逸凡　赖逸峰　白蜀珺　周盟　 黄扬　方超　 (74)专利代理 机构 北京慕达星云知识产权代理 事务所 (特殊普通合伙) 11465 专利代理师 符继超 (51)Int.Cl. G06F 30/13(2020.01) G06F 30/20(2020.01) (54)发明名称 基于BIM的基础大样详图的自动校审方法、 系统及介质 (57)摘要 本发明公开了基于BIM的基础大样详图的自 动校审方法、 系统及介质， 该方法包括： 基于BIM 平台搜寻待校审第一基础详图的剖切位置； 当存 在剖切位置时， 根据所述剖切位置生成第二基础 详图； 将所述第一基础详图和第二基础详图， 分 别进行单个基础详图检查， 获得各自对应的基础 轮廓点集SP1、 SP2和垫层轮廓点集SC1、 SC2； 对比 SP1、 SP2， 得到基础轮廓之间的差异； 对比SC1、 SC2， 得到垫层轮廓之间的差异。 该方法有助于在 基础详图设计修改完毕后， 基于BIM平台， 实现校 审， 可指出基础详图中垫层、 轮廓的变更信息， 有 效的避免了基础剖断面与相应基础详图的不一 致性， 提高校审人员的工作效率。 权利要求书2页 说明书7页 附图6页 CN 115270250 A 2022.11.01 CN 115270250 A 1.一种基于BIM的基础大样详图的自动校审方法， 其特 征在于， 包括： 基于BIM平台搜寻待校审第一基础详图的剖切位置P1； 当存在剖切位置P1时， 根据所述剖切位置P1生成第二基础详图； 将所述第一基础详 图和第二基础详 图， 分别进行单个基础详 图检查， 获得各自对应的 基础轮廓点 集SP1、 SP2和垫层轮廓点 集SC1、 SC2； 对比所述基础轮廓点集SP1、 SP2， 得到所述第一基础详图和第二基础详图的基础轮廓 之间的差异； 对比所述垫层轮廓点集SC1、 SC2， 得到所述第一基础详图和第二基础详图的垫层轮廓 之间的差异。 2.根据权利要求1所述的一种基于BIM的基础大样详图的自动校审方法， 其特征在于， 所述单个 基础详图检查的步骤 包括： S101、 从基础详图中提取所有剖 断线图元， 构成剖 断线图元集合； 提取所有多义线图 元， 构成多义线图元集 合； S102、 遍历所述剖断线图元集合中的所有剖 断线图元， 判断其所属类别； 所述类别包 括： 水平剖断线和竖直剖断线； 根据所述剖断线图元的所属类别， 对 所述多义线图元集合进 行处理， 形成封闭的多义线集 合； S103、 选择所述多义线集合中X坐标的最大值和最小值， 得到垫层的边界点； 根据所述 垫层的两个边界点， 搜索出垫层轮廓线， 组合轮廓线的两端点得到有序的垫层轮廓点 集； S104、 移除所述垫层轮廓线的多义线集合， 形成基础轮廓线集合， 组合轮廓线的两个端 点得到有序的基础轮廓点 集。 3.根据权利要求1所述的一种基于BIM的基础大样详图的自动校审方法， 其特征在于， 还包括： 当不存在所述剖切位置P1时， 发出 无剖切位置的警告信息 。 4.根据权利要求2所述的一种基于BIM的基础大样详图的自动校审方法， 其特征在于， 所述S102步骤中， 遍历所述剖断线图元集 合中的所有剖断线图元， 判断其所属类别， 包括： 遍历所述剖断线图元集 合中的所有剖断线图元； 根据所述剖断线图元的两个控制点的连线与水平线夹角进行判断其类别； 当夹角为0 时， 则所述剖断线图元为水平剖断线； 当夹角为90 °时， 则所述剖断线图元为竖直剖断线。 5.根据权利要求4所述的一种基于BIM的基础大样详图的自动校审方法， 其特征在于， 所述S102步骤中， 根据所述剖断线图元的所属类别， 对所述多义线图元集合进 行处理， 形成 封闭的多义线集 合； 包括： 根据所述剖断线图元为水平剖断线时， 确定其与所述多义线集合的两个交点Pt1、 Pt2 和交线L1、 L2； 将所述交线L1、 L2从所述多义线集 合中删除； 添加L1、 L2与其余线共享的端点直接的连线到所述多义线集合中， 形成封闭的多义线 集合。 6.根据权利要求5所述的一种基于BIM的基础大样详图的自动校审方法， 其特征在于， 所述S102步骤中， 根据所述剖断线图元的所属类别， 对所述多义线图元集合进 行处理， 形成 封闭的多义线集 合； 还包括：权　利　要　求　书 1/2 页 2 CN 115270250 A 2根据所述剖断线图元为竖直剖断线时， 确定其与所述多义线集合的所有交点， 排序序 后依次连线， 并添加入所述多义线集 合中， 形成封闭的多义线集 合。 7.根据权利要求6所述的一种基于BIM的基础大样详图的自动校审方法， 其特征在于， 所述S102步骤中， 根据所述剖断线图元的所属类别， 对所述多义线图元集合进 行处理， 形成 封闭的多义线集 合； 还包括： 当所述剖断线图元确定其与所述多义线集合， 均不存在交点时， 则所述基础详 图为非 法， 并发出 所述剖断线图元与基础轮廓不相交的提 示信息。 8.根据权利要求2所述的一种基于BIM的基础大样详图的自动校审方法， 其特征在于， 所述S103步骤包括： S1031、 提取处理完毕的多义线集合中所有线 的两个端点， 得到所述多义线集合中X坐 标的最大值和最小值； S1032、 遍历多义线， 分别找出端点 坐标值为最大或最小的集 合Plines； S1033、 对所述集合Plines进行分析， 所述集合Plines的元素均包括3条线段； 该3条线 段相互平行或者 其中两条相互平行、 两条相互垂直； S1034、 对所述3条线段的Y坐标进行排序， 取最低的点， 且X坐标为最大或最小作 为垫层 搜寻点； S1035、 以垫层搜寻点的其中一点为起始位置点、 另一点为终止点； 从所述多义线集合 中搜索包含起始 位置点的线L， 将该线L的另一个端点作为新的搜索点， 重复执行搜索， 直到 搜寻点与所述终止点重合； 所有 线L的端点的组合， 形成垫层轮廓点 集。 9.一种基于BIM的基础大样详图的自动校审系统， 其特 征在于， 包括： 搜寻模块， 基于BIM平台搜寻待校审第一基础详图的剖切位置P1； 生成模块， 用于当存在剖切位置P1时， 根据所述剖切位置P1生成第二基础详图； 检查模块， 用于将所述第 一基础详图和第二基础详图， 分别进行单个基础详图检查， 获 得各自对应的基础轮廓点 集SP1、 SP2和垫层轮廓点 集SC1、 SC2； 对比模块， 用于对比所述基础轮廓点集SP1、 SP2， 得到所述第一基础详图和第二基础详 图的基础轮廓之间的差异； 对比所述垫层轮廓点集SC1、 S C2， 得到所述第一基础详图和第二 基础详图的垫层轮廓之间的差异。 10.一种计算机可读存储介质， 其特征在于， 当所述存储介质中的指令由处理器执行 时， 能够实现如权利要求1 ‑8中任一项所述的基于BIM的基础大样详图的自动校审方法。权　利　要　求　书 2/2 页 3 CN 115270250 A 3