ICS 49.140 CCS V 25 中华人民共和国国家标准 GB/T 43226—2023 宇航用半导体集成电路单粒子软错误时域测试方法 Time-domain test methods for space single event soft errors of semiconductor integrated circuit 2024-01-01实施 2023-09-07发布国家市场监督管理总局发布国家标准化管理委员会 GB/T43226—2023 前言本文件按照GB/T1.1一2020《标准化工作导则第1部分：标准化文件的结构和起草规则》的规定起草。请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别专利的责任。本文件由全国宇航技术及其应用标准化技术委员会（SAC/TC425）提出并归口。本文件起草单位：北京微电子技术研究所、中国航天电子技术研究院。本文件主要起草人：赵元富、陈雷、王亮、岳素格、郑宏超、李哲、林建京、李永峰、陈淼、王汉宁。

GB-T 43226-2023 宇航用半导体集成电路单粒子软错误时域测试方法

文档预览

中文文档 8 页 50 下载 1000 浏览 0 评论 0 收藏 3.0分

赞助3元下载(无需注册)

温馨提示：本文档共8页，可预览 3 页，如浏览全部内容或当前文档出现乱码,可开通会员下载原始文档

GB-T 43226-2023 宇航用半导体集成电路单粒子软错误时域测试方法第 1 页

GB-T 43226-2023 宇航用半导体集成电路单粒子软错误时域测试方法第 2 页

GB-T 43226-2023 宇航用半导体集成电路单粒子软错误时域测试方法第 3 页

下载文档到电脑，方便使用

赞助3元下载

本文档由思安于 2024-01-14 23:25:49上传分享

下载原文档(1.1 MB)

友情链接